SA8000半導體參數分析儀基于全自主知識產權的 PXIe 架構設計，最多支持 18 個模塊同時工作，可靈活組合直流 IV、CV、快速脈沖測量單元，通過高速總線與統一同步觸發管理，實現多模塊的精準協同測試，無需在多臺儀器間反復切換，大幅提升測試效率與數據一致性。

產品型號：
廠商性質：代理商
更新時間：2026-03-27
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SA8000半導體參數分析儀介紹：

SA8000半導體參數分析儀基于全自主知識產權的 PXIe 架構設計，最多支持 18 個模塊同時工作，可靈活組合直流 IV、CV、快速脈沖測量單元，通過高速總線與統一同步觸發管理，實現多模塊的精準協同測試，無需在多臺儀器間反復切換，大幅提升測試效率與數據一致性。其核心測量能力達到 0.1fA 的電流分辨率，可穩定捕捉憶阻器、量子點等器件的超微弱信號；同時搭載無需編程的 Quick Test 模式，支持 Python 自定義器件測試算法，兼顧了易用性與靈活性，目前已進入復旦大學、清華大學等國內高校的采購清單，在二維材料、神經形態計算等前沿研究領域實現了落地應用。

核心性能參數

電流測量能力：0.1 fA（10?1? A）超高電流分辨率，可穩定捕捉憶阻器、量子點等器件的超微弱信號

硬件架構：基于 PXIe 架構，最多支持 18 個模塊同時工作，配備高速總線通訊 + 統一同步觸發管理，無需多臺儀器切換

測試覆蓋：可靈活組合直流 IV、CV、快速脈沖測量單元，適配多種 PXIe 儀表

軟件能力：

無需編程的 Quick Test 模式（經典測試 / 應用測試 / 序列測試三種模式）

支持 Python 編程自定義器件測試算法，開放二次開發

產品優勢
微弱電流探測
依托在源表領域持續多年的技術積累，SA8000實現了 0.1 fA（10-16 A）的電流測量分辨率，能穩定捕捉憶阻器、量子點等器件的超微弱信號，為前沿探索提供可靠的微弱信號測量能力。

全集成多維度測試能力
系統基于PXIe架構支持最多18個模塊同時工作，可靈活組合直流IV、CV及快速脈沖測量單元。通過高速總線通訊及統一的同步觸發管理，可以適配多種PXIe儀表。無需在多臺儀器間反復切換，顯著提升測試效率與數據一致性。

無需編程的Quick Test模式
經典測試模式：支持靈活多樣的參數配置，滿足多種測試場景需求；應用測試模式：可選用預置的多種器件算法，快速測試器件的特性曲線或關鍵參數；序列測試模式：支持自動順序執行由多個經典測試或應用測試編輯的測試序列；

自定義器件測試算法
應用測試模式中的器件算法使用python 編程，開放供客戶自定義器件測試算法。用戶可根據自身研究需求，自定義器件的測試過程以及參數提取算法，極大提升測試靈活性與算法可復現性。

主要可選模塊如下：

SA8000半導體參數分析儀

SA8000半導體參數分析儀

SA8000 廣泛應用于各類半導體器件的研發與測試場景，涵蓋傳統器件與前沿研究領域：

SA8000半導體參數分析儀

典型的前沿領域應用：
1.憶阻器與神經形態計算研究內置波形產生與快速測量單元，最小脈寬200ns，可實時記錄阻變過程，為類腦計算芯片提供高保真原始數據。
2.二維材料與量子器件研究得益于 0.1fA 的超低電流分辨率測量能力，SA8000 可精準表征二維材料（如石墨烯、MoS?）的微弱電導變化，支持量子點等新型器件的工作機制研究。

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